通信用光电子器件热冲击试验

中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的热冲击试验服务。

我们的服务专项服务 通信用光电子器件热冲击试验

通信用光电子器件热冲击试验试验背景

冲击测试是用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性，是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中不可缺少的试验，在有些情况下也可以用于环境应力筛选试验。通信用光电子器件热冲击试验可确定密封光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的影响。
中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的热冲击试验服务。

通信用光电子器件热冲击试验试验范围

1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，和光纤一起决定着基本光纤传输系统的水平。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。

通信用光电子器件热冲击试验试验方法

按以下程序进行试验：
a）试验前对试样的主要光电特性进行测试。
b）将试样放于试验槽中，液体在试样周围的流动不应受到阻碍。
c）试样放在高温中保持5 min后，再将试样放入低温中保持5 min ；
试样应在2 min内达到规定的温度﹔从高温到低温，或从低温到高温的转换时间不得超过10s。
d）按照c）步骤进行15次循环。

通信用光电子器件热冲击试验试验标准

GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法
GB/T 21194通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
GB/T 42259-2022 金属及其他无机覆盖层热障涂层耐热循环与热冲击性能测试方法
EN 60749-6-2002 半导体器件机械和气候试验方法第6部分：高温储存
GB/T 4937.23 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命