电子元器件的失效很多是由于环境温度造成体内和表面的各种物理、化学变化所引起的。温度升高后，使得化学反应速率大大加快，其失效过程也得到加速，使有缺陷的元器件能及时暴露。通信用光电子器件高温贮存试验可确定光电子器件能否经受高温下的运输和贮存，以保证光电子器件经受高温后能在规定条件下正常工作。
中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的高温贮存试验服务。

1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，和光纤一起决定着基本光纤传输系统的水平。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。

按以下程序进行试验：
a）试验前测试试样的主要光电特性；
b）把试样贮存在规定试验条件的恒温控制试验箱中，在开始计时之前应有足够升温时间，使所有试样处在规定的温度下，温度传感器应位于工作区内最低温度的位置处；
c）在达到规定的试验时间后，把试样从试验环境中移出，放置24 h，使之达到标准测试条件，并对试样光电特性进行测试。

试验标准 GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法
GB/T 21194通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
EN 60749-6-2002 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存
GB/T 4937.23 半导体器件机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命
DZ 0039.11-1992 地质仪器产品基本环境试验条件及方法 高温/高压综合试验
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温
GB/T 2423.63-2019 环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（混合模式）综合