通信用光电子器件低温贮存试验

中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的低温贮存试验服务。

我们的服务专项服务 通信用光电子器件低温贮存试验

通信用光电子器件低温贮存试验试验背景

进行低温试验的目的是为了确定产品在低温条件下贮存或使用的适应性。所谓低温条件下的适应性是指产品在恒定的低温条件下贮存或使用时，能保持完好，不受损坏并能正常工作的能力。通信用光电子器件低温贮存试验可确定光电子器件能否经受低温下运输和贮存，以保证光电子器件经受低温后能在规定条件下正常工作。
中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的低温贮存试验服务。

通信用光电子器件低温贮存试验试验范围

1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，和光纤一起决定着基本光纤传输系统的水平。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。

通信用光电子器件低温贮存试验试验方法

按以下程序进行试验：
a）试验前测试试样的主要光电特性；
b）把试样贮存在规定试验条件的低温试验箱中，在开始计时之前应有足够降温时间，使所有试样处在规定的温度下，温度传感器应位于工作区内最高温度的位置处；
c）在达到规定的试验时间后，把试样从试验环境中移出，放置24 h，使之达到标准测试条件，并对试样光电特性进行测试。

通信用光电子器件低温贮存试验试验标准

GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法
GB/T 21194通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温
GB/T 2951.14-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第14部分：通用试验方法低温试验