通信用光电子器件温度循环试验

中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的机械冲击试验服务。

我们的服务专项服务 通信用光电子器件温度循环试验

通信用光电子器件温度循环试验试验背景

温度循环对于电子元器件来说是一种环境应力测试，此外温度循环还会加速电子管元件的老化。温度循环加速老化的目的一般不是引起特定性能参数的退化，而是为封装在组件中的光路的长期机械稳定性提供额外的附加说明。
通信用光电子器件温度循环试验可确定光电子器件承受高温和低温的能力，以及高温和低温交替变化对光电子器件的影响，保证光电子器件封装内部的光路长期机械稳定性。
中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的机械冲击试验服务。

通信用光电子器件温度循环试验试验范围

1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，和光纤一起决定着基本光纤传输系统的水平。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。

通信用光电子器件温度循环试验试验方法

按以下程序进行试验：
a）试验前对试样的主要光电特性进行测试；
b）将试样放置在试验箱内，其位置不应妨碍试样周围空气的流动；
c）试样在规定条件下连续完成规定的循环次数；
d）完成规定的循环后，把试样从试验箱移出放置24 h，使之达到标准测试条件后进行光电特性测试。
由于电源或设备故障原因，允许中断试验。如果中断的循环次数超过规定循环的总次数的10%时，不管任何理由，试验应重新从头开始进行。