通信用光电子器件高温寿命试验

中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的高温寿命试验服务。

我们的服务专项服务 通信用光电子器件高温寿命试验

通信用光电子器件高温寿命试验试验背景

通过试验可以发现问题，及时改进和提高电子器件的质量工作实践表明，电子器件在高温1000h稳态寿命试验中，能够发现问题，及时采取改进措施，从而达到提高产品质量的目的。器件与环境温度之间的温差对器件的寿命一定的影响，阿伦尼乌斯方程表示“温度每升高10摄氏度，器件的寿命会缩短一半”。
通信用光电子器件高温寿命试验可确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。
中科检测可靠性实验中心具备各种通信用光电子器件的环境试验能力，为通信用光电子器件提供专业的高温寿命试验服务。

通信用光电子器件高温寿命试验试验范围

1、有源器件：有源器件包括光源、光检测器和光放大器，这些器件是光发射机、光接收机和光中继器的关键器件，和光纤一起决定着基本光纤传输系统的水平。
2、光无源器件：光无源器件主要有连接器、光纤准直器、耦合器、波分复用器/解复用器、光隔离器、光环形器、光开关、光滤波器、光衰减器等。

通信用光电子器件高温寿命试验试验方法

按以下程序进行试验：
a）试验前应对试样的主要光电特性进行测试；
b）将试样放进高温试验箱内，并使试样处于工作状态；
c）按照试验条件开始试验，记录起始时间、试验温度和试样数量；
d）使用监视仪器，从试验开始到结束监视试验温度和工作偏置，以保证全部试样按条件施加应；
e）在中间测试时将样品从高温试验箱取出，测试完成后放回高温试验箱继续进行试验。